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热测试(一)——ETM法测量结温
热测试——通过各种手段,推算或者测量芯片的结温。因为结温是热设计上限,控制结温是热设计非常重要的目标。传统测量结温的方法一般都是通过测量壳温,再根据θjc推算出结温。- 859
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