热阻 RthJC 的测量方法和使用方法 在 JEDEC Standard JESD51 的定义中,对「从结到外壳」 的热阻是指「从半导体器件的工作部分到芯片的安装区域最近的封装(外壳)的外周面的热阻,当其外周面适当地散热时,其外周面和散热片的温差最小」有这样的说法 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
热阻 RthJC 的测量方法和使用方法 在 JEDEC Standard JESD51 的定义中,对「从结到外壳」 的热阻是指「从半导体器件的工作部分到芯片的安装区域最近的封装(外壳)的外周面的热阻,当其外周面适当地散热时,其外周面和散热片的温差最小」有这样的说法 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
作者: 热阻 RthJC 的测量方法和使用方法 在 JEDEC Standard JESD51 的定义中,对「从结到外壳」 的热阻是指「从半导体器件的工作部分到芯片的安装区域最近的封装(外壳)的外周面的热阻,当其外周面适当地散热时,其外周面和散热片的温差最小」有这样的说法 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论
热阻 RthJC 的测量方法和使用方法 在 JEDEC Standard JESD51 的定义中,对「从结到外壳」 的热阻是指「从半导体器件的工作部分到芯片的安装区域最近的封装(外壳)的外周面的热阻,当其外周面适当地散热时,其外周面和散热片的温差最小」有这样的说法 赞 参与讨论{{item.data.meta.comment}}条讨论